仪器简介：
日本电子 JSM 7610F高分辨场发射扫描电子显微镜是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。利用二次电子信号成像来观察样品的表面形态。对各种固体样品表面进行高分辨形貌观察、材料断口分析。二次电子像、背散射电子成像。
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