仪器简介：
JEM-2100F透射电子显微镜系日本电子产品。不仅可以获得样品的高分辨率电子显微像，而且还可对样品微区作纳米尺度的结构与成分分析，广泛应用于材料科学、生命科学、半导体、纳米技术等领域。附件包括STEM、EDS、EELS、CCD相机等。
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