仪器简介：
科研级暗场金相显微镜WYJ-4XBD采用优良的无限远光学系统与多功能、模块化的设计理念，带有偏光装置、暗场装置，可实现偏光观察、暗场观察等功能。适用于薄片试样的金相、矿相、晶体、硅片、电路基板、FPD等结构分析和研究，或用于观察材料表面特性，如：划痕、裂纹、喷涂的均匀性等分析。
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